所屬欄目:測試標準作者:越聯(lián)儀器點(diǎn)擊率:發(fā)布時(shí)間:2017-07-10 14:51:20
1、GB/T 2421-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第一部分:總則
2、GB/T 15844.2-1995 移動(dòng)通信調頻無(wú)線(xiàn)電話(huà)機環(huán)境要求和實(shí)驗方法
3、GB/T 15844.3-1995 移動(dòng)通信調頻無(wú)線(xiàn)電話(huà)機可靠性要求及實(shí)驗方法
4、GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第1部分:實(shí)驗方法 試驗A:低溫
5、GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:實(shí)驗方法 試驗B:高溫
6、GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:實(shí)驗方法 試驗Ed:自由跌落
7、GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:實(shí)驗方法 試驗Fc和導則:振動(dòng)
8、GB/T 2423.3-93 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法
9、GB4943-2001 信息技術(shù)設備的安全
10、GB/T 17626.2-1998 電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 靜電放電抗擾度試驗
11、YD/T 1215-2002 GSM900/1800MHzTDMA數字蜂窩移動(dòng)通信網(wǎng)通用分組無(wú)線(xiàn)業(yè)務(wù)(GPRS)設備測試方法:移動(dòng)臺
12、YD 1032-2000 GSM900/1800MHz TDMA數字蜂窩移動(dòng)通信系統電磁兼容性限值和測量方法第一部分:移動(dòng)臺及其設備
13、信息產(chǎn)業(yè)部科技司- 移動(dòng)電話(huà)機入網(wǎng)檢驗細則
7.1.1 室溫下參數測試 (Parametric Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
測試目的: 測試預檢查
測試方法:使用8960/8922測試儀,參照附件1(下同)項目列表,對所有樣品進(jìn)行參數指標預測試并保存測試結果。
測試標準:所有附件1中參數指標正常,功能正常。
7.1.2 溫度沖擊測試(Thermal Shock)
測試環(huán)境:低溫箱:-30° C ;高溫箱:+70° C
測試目的:通過(guò)高低溫沖擊進(jìn)行樣品應力篩選
試驗方法:使用高低溫沖擊箱,手機帶電池,設置成關(guān)機狀態(tài)先放置于高溫箱內持續45分鐘后,在15秒內迅速移入低溫箱并持續45分鐘后,再15秒內迅速回到高溫箱。此為一個(gè)循環(huán),共循環(huán)27次。實(shí)驗結束后將樣機從溫度沖擊箱(高溫箱)中取出,恢復2小時(shí)后進(jìn)行外觀(guān)、機械和電性能檢查。對于翻蓋手機,應將一半樣品打開(kāi)翻蓋;對于滑蓋手機,應將一半樣品滑開(kāi)到上限位置。
試驗標準:手機表面噴涂無(wú)異變,結構無(wú)異常,功能正常,可正常撥打電話(huà)。
7.1.3 跌落試驗(Drop Test)
測試條件:1.5m高度,20mm厚大理石地板。(對于PDA手機,根據所屬公司質(zhì)量部門(mén)的建議可調整為跌落高度為1.3m)
測試目的: 跌落沖擊試驗
試驗方法:將手機處于開(kāi)機狀態(tài)進(jìn)行跌落。對于直握手機,進(jìn)行6個(gè)面的自由跌落實(shí)驗,每個(gè)面的跌落次數為1次,每個(gè)面跌落之后進(jìn)行外觀(guān)、結構和功能檢查。對于翻蓋手機,進(jìn)行8個(gè)面的自由跌落實(shí)驗;其中一半樣品合上翻蓋按直握手機的方法進(jìn)行跌落,另一半樣品在跌正面和背面時(shí)須打開(kāi)翻蓋;對于滑蓋手機,應將一半樣品滑開(kāi)到上限位置。跌落結束后對外觀(guān)、結構和功能進(jìn)行檢查。
試驗標準:手機外觀(guān),結構和功能符合要求。
7.1.4 振動(dòng)試驗(Vibration Test)
測試條件:振幅:0.38mm/振頻:10~30Hz;振幅:0.19mm/振頻:30~55Hz;
測試目的: 測試樣機抗振性能
試驗方法:將手機開(kāi)機放入振動(dòng)箱內固定夾緊。啟動(dòng)振動(dòng)臺按X、Y、Z三個(gè)軸向分別振動(dòng)1個(gè)小時(shí),每個(gè)軸振完之后取出進(jìn)行外觀(guān)、結構和功能檢查。三個(gè)軸向振動(dòng)試驗結束后,對樣機進(jìn)行參數測試。
試驗標準:振動(dòng)后手機內存和設置沒(méi)有丟失現象,手機外觀(guān),結構和功能符合要求,參數測試正常,晃動(dòng)無(wú)異響。
7.1.5 濕熱試驗(Humidity Test)
測試環(huán)境:60° C,95%RH
測試目的: 測試樣機耐高溫高濕性能
試驗方法:將手機處于關(guān)機狀態(tài),放入溫濕度實(shí)驗箱內的架子上,持續60個(gè)小時(shí)之后取出,常溫恢復2小時(shí),然后進(jìn)行外觀(guān)、結構和功能檢查。對于翻蓋手機,應將一半樣品合上翻蓋,一半樣品
開(kāi)翻蓋;對于滑蓋手機,應將一半樣品滑開(kāi)到上限位置。
試驗標準:手機外觀(guān),結構和功能符合要求。
7.1.6 靜電測試(ESD)
測試條件:+/-4kV~+/-8kV。
測試目的: 測試樣機抗靜電干擾性能
試驗方法:將樣機設置為開(kāi)機狀態(tài),檢查樣機內存和功能。(內存10條短信息和10個(gè)電話(huà)號碼;使用功能正常)。將樣機放于靜電測試臺的絕緣墊上,并且用充電器加電使手機處于充電狀態(tài)(樣機與絕緣墊邊緣距離至少2英寸;兩個(gè)樣機之間的距離也是至少2英寸)。
打開(kāi)靜電模擬器,調節放電方式,分別選擇+/-4kV(接觸放電),~+/-8kV(空氣放電),對手機指定部位連續放電10次,并對地放電。每做完一個(gè)部位的測試,檢查手機功能、信號和靈敏度,并觀(guān)察手機在測試過(guò)程中有無(wú)死機,通信鏈路中斷,LCD顯示異常,自動(dòng)關(guān)機及其他異常現象。樣機需在與8922測試儀建立起呼叫連接的狀態(tài)下進(jìn)行各個(gè)放電方式、級別和極性的測試。
試驗標準:在+/-4Kv 和 +/-8Kv時(shí)出現任何問(wèn)題都要被計為故障。
備注:靜電釋放位置的確定要依據產(chǎn)品的具體情況進(jìn)行定義。
7.1.7室溫下參數測試 (Parametric Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);測試目的: 測試結束后參數對比
測試方法:使用8960/8922測試儀,參照附件1項目列表,對所有樣品進(jìn)行參數指標測試。
測試標準:所有附件1中參數指標正常,功能正常。
一般氣候性測試 惡劣氣候性測試
A: 一般氣候性測試:
7.2.1.高溫/低溫參數測試(Parametric Test)
測試環(huán)境:-10° C /+55° C
測試目的:高溫/低溫應用性性能測試
試驗方法:將手機電池充滿(mǎn)電,手機處于開(kāi)機狀態(tài),放入溫度實(shí)驗箱內的架子上,調節溫度控制器到-10° C /+55°C。持續2個(gè)小時(shí)之后在此環(huán)境下進(jìn)行電性能參數和功能檢查。對于翻蓋手機,應將一半樣品合上翻蓋,一半樣品打開(kāi)翻蓋;對于滑蓋手機,應將一半樣品滑開(kāi)到上限位置。
試驗標準:手機電性能參數指標滿(mǎn)足要求,功能正常,外殼無(wú)變形。
7.2.2.高溫高濕參數測試(Parametric Test)
測試環(huán)境:+45° C,95%RH
測試目的:高溫高濕應用性性能測試
試驗方法:將手機電池充滿(mǎn)電,手機處于開(kāi)機狀態(tài),放入溫度實(shí)驗箱內的架子上。持續48個(gè)小時(shí)之后,然后在此環(huán)境下進(jìn)行電性能檢查,檢查項目見(jiàn)附表1。對于翻蓋手機,應將一半樣品合上翻蓋,一半樣品打開(kāi)翻蓋;對于滑蓋手機,應將一半樣品滑開(kāi)到上限位置。
試驗標準:手機電性能指標滿(mǎn)足要求,功能正常,外殼無(wú)變形。
7.2.3.高溫/低溫功能測試(Functional Test)
測試環(huán)境:-40° C /+70° C
測試目的:高溫/低溫應用性功能測試
試驗方法:將手機處于關(guān)機狀態(tài),放入溫度實(shí)驗箱內的架子上。持續24個(gè)小時(shí)之后,取出,并放置2小時(shí),恢復至常溫,然后進(jìn)行結構,功能和電性能檢查。對于翻蓋手機,應將一半樣品合上翻蓋,一半樣品打開(kāi)翻蓋;對于滑蓋手機,應將一半樣品滑開(kāi)到上限位置。
試驗標準:手機電性能指標滿(mǎn)足要求,功能正常,外殼無(wú)變形。
B:惡劣氣候性測試
7.2.4.灰塵測試(Dust Test)
測試環(huán)境:室溫
測試目的:測試樣機結構密閉性
試驗方法:將手機關(guān)機放入灰塵實(shí)驗箱內。灰塵大小300目,持續3個(gè)小時(shí)之后,將手機從實(shí)驗箱中取出,用棉布和離子風(fēng)槍清潔后進(jìn)行檢查。對于翻蓋手機,應將一半樣品合上翻蓋,一半樣品
開(kāi)翻蓋;對于滑蓋手機,應將一半樣品滑開(kāi)到上限位置。
試驗標準:手機各項功能正常,所有活動(dòng)元器件運轉自如,顯示區域沒(méi)有明顯灰塵。
7.2.5.鹽霧測試(Salt fog Test)
測試環(huán)境:35° C
測試目的:測試樣機抗鹽霧腐蝕能力
試驗方法:
溶液含量:5%的氯化鈉溶液。
將手機關(guān)機放在鹽霧試驗箱內,合上翻蓋,樣機用繩子懸掛起來(lái),以免溶液噴灑不均或有的表面噴不到。樣機需要立即被放入測試箱。實(shí)驗周期是48個(gè)小時(shí)。實(shí)驗過(guò)程中樣機不得被中途取出,如果急需取出測試,要嚴格記錄測試時(shí)間,該實(shí)驗需向后延遲相同時(shí)間。取出樣機后,用棉布和離子風(fēng)槍清潔,放置48小時(shí)進(jìn)行常溫干燥后,對其進(jìn)行外觀(guān)、機械和電性能檢查。
試驗標準:手機各項功能正常,外殼表面及裝飾件無(wú)明顯腐蝕等異常現象。
7.3.1.按鍵測試(Keypad Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
測試目的:按鍵壽命測試
測試數量:2臺手機。
測試方法:將手機設置成關(guān)機狀態(tài)固定在測試夾具上,導航鍵及其他任意鍵進(jìn)行10萬(wàn)次按壓按鍵測試。進(jìn)行到3萬(wàn)次、5萬(wàn)次、8萬(wàn)次、10萬(wàn)次時(shí)各檢查手機按鍵彈性及功能一次。實(shí)驗中被測試的鍵的選擇根據不同機型進(jìn)行確定并參考工程師的建議,應盡量不重復,盡可能多。試驗標準:手機按鍵彈性及功能正常。
7.3.2.側鍵測試(Side Key Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
測試目的:側鍵壽命測試
測試數量:1臺手機
測試方法:將手機設置成關(guān)機狀態(tài)固定在測試夾具上,對側鍵進(jìn)行10萬(wàn)次按壓按鍵測試。進(jìn)行到3萬(wàn)次、5萬(wàn)次、8萬(wàn)次、10萬(wàn)次時(shí)各檢查手機按鍵彈性及功能一次。
試驗標準:手機按鍵彈性及功能正常。
7.3.3.翻蓋測試(Flip Life Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
測試目的:翻蓋壽命測試
測試數量:4臺手機。
測試方法:將手機設置成開(kāi)機狀態(tài),固定在測試夾具上,進(jìn)行5萬(wàn)次開(kāi)合翻蓋測試。進(jìn)行到3萬(wàn)次、4萬(wàn)次、4. 5萬(wàn)次、5萬(wàn)次時(shí)進(jìn)行手機翻蓋彈性及功能一次。
試驗標準:5萬(wàn)次后,手機外觀(guān),結構,及功能正常。
7.3.4.滑蓋測試(Slide Life Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
測試目的:滑蓋壽命測試
測試數量:4臺手機。
測試方法:將手機設置成開(kāi)機狀態(tài),固定在測試夾具上,進(jìn)行5萬(wàn)次滑蓋測試。進(jìn)行到3萬(wàn)次、4萬(wàn)次、4. 5萬(wàn)次、5萬(wàn)次時(shí)進(jìn)行手機滑蓋手感及功能一次。
試驗標準:5萬(wàn)次后,手機外觀(guān),結構,及功能正常,滑蓋不能有松動(dòng)(建議:垂直手機時(shí)不能有自動(dòng)下滑的現象)
7.3.5. 重復跌落測試(Micro-Drop Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);7cm高度 ,20mmPVC板
測試目的:樣機跌落疲勞測試
測試數量:2臺。
測試方法:手機處于開(kāi)機狀態(tài),做手機正面及背面的重復跌落實(shí)驗,每個(gè)面的跌落次數為20,000次。進(jìn)行到1萬(wàn)次、1.5萬(wàn)次、1.8萬(wàn)次、2萬(wàn)次時(shí)各檢查對手機進(jìn)行外觀(guān)、機械和電性能的中間檢查。
測試標準:手機各項功能正常,外殼無(wú)變形、破裂、掉漆,顯示屏無(wú)破碎,晃動(dòng)無(wú)異響。
7.3.6. 充電器插拔測試(Charger Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
測試目的:充電器插拔]壽命測試
測試數量:2臺手機。
試驗方法:將充電器接上電源,連接手機充電接口,等待手機至充電界面顯示正常后,拔除充電插頭。在開(kāi)機不插卡狀態(tài)下插拔充電3000次。進(jìn)行到2000次、2500次和3000次時(shí)進(jìn)行中間/結束檢查一次。
檢驗標準:I/O接口無(wú)損壞,焊盤(pán)無(wú)脫落,充電功能正常。無(wú)異常手感。
7.3.7.筆插拔測試(Stylus Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
測試目的:手機手寫(xiě)筆插拔壽命測試
測試數量:2臺手機。
試驗方法:將手機處于開(kāi)機狀態(tài),筆插在手機筆插孔內,然后拔出,反復20,000次。進(jìn)行到1萬(wàn)次、1萬(wàn)5千次、1萬(wàn)8千次、2萬(wàn)次時(shí)檢查手機筆插入拔出結構功能、外殼及筆是否正常。
檢驗標準:手機筆輸入功能正常,插入拔出結構功能、外殼及筆均正常。
7.3.8點(diǎn)擊試驗 (Point Activation Life Test)
試驗條件:觸摸屏測試儀(接觸墊尖端半徑為3.75mm;硬度為40deg的硅樹(shù)脂橡膠)
測試目的:觸摸屏點(diǎn)擊壽命測試
樣品數量:1臺
試驗方法:將手機設置為開(kāi)機狀態(tài),點(diǎn)擊LCD的中心位置250,000次,點(diǎn)擊力度為250g;點(diǎn)擊速度:2次/秒;
檢驗標準:不應出現電性能不良現象;表面不應有損傷
7.3.9劃線(xiàn)試驗 (Lineation Life Test)
試驗條件:觸摸屏測試儀,直徑為0.8mm的塑料手寫(xiě)筆或隨機附帶的手寫(xiě)筆
測試目的:觸摸屏劃線(xiàn)疲勞測試
樣品數量:1臺
試驗方法:將手機設置為關(guān)機狀態(tài),在同一位置劃線(xiàn)至少100,000次,力度為250g;
滑行速度:60mm/秒
檢驗標準:不應出現電性能不良現象;表面不應有損傷
7.3.10.電池/電池蓋拆裝測試(Battery/Battery Cover Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
測試目的:電池/電池蓋拆裝壽命測試
測試數量:2臺。
試驗方法:將電池/電池蓋反復拆裝2000次。進(jìn)行到1500次、1800次和2000次時(shí)檢查手機及電池/電池蓋各項功能、及外觀(guān)是否正常。
檢驗標準:手機及電池卡扣功能正常無(wú)變形,電池觸片、電池連接器應無(wú)下陷、變形及磨損的現象,外觀(guān)無(wú)異常。
7.3.11. SIM Card 拆裝測試(SIM Card Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
測試目的:SIM卡拆裝壽命測試
測試數量:2臺手機。
試驗方法:插上SIM卡,然后取下SIM卡,再重新裝上,反復1000次,每插拔100次檢查開(kāi)機是否正常,讀卡信息正常。
檢驗標準:SIM卡觸片、SIM卡推扭開(kāi)關(guān)正常,手機讀卡功能使用正常。
7.3.12. 耳機插拔測試(Headset Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
測試目的:耳機插拔壽命測試
測試數量:2臺手機。
試驗方法:將手機處于開(kāi)機狀態(tài),耳機插在耳機插孔內,然后拔出,反復3000次。進(jìn)行到2000、2500次和3000次時(shí)各檢查一次。
檢驗標準:實(shí)驗后檢查耳機插座無(wú)焊接故障,耳機插頭無(wú)損傷,使用耳機通話(huà)接收與送話(huà)無(wú)雜音(通話(huà)過(guò)程中轉動(dòng)耳機插頭),耳機插入手機耳機插孔時(shí)不會(huì )松動(dòng)(可以承受得住手機本身的重量)。
7.3.13.導線(xiàn)連接強度試驗(Cable Pulling Endurance Test--Draft)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
測試目的:導線(xiàn)連接強度測試
實(shí)驗方法:選取靠近耳塞的一段導線(xiàn),將其兩端固定在實(shí)驗機上,用10N±1N的力度持續拉伸6秒,循環(huán)100次。(其它造型的導線(xiàn)可采納工程師的建議來(lái)確定循環(huán)次數)
檢驗標準:導線(xiàn)功能正常。被覆外皮不破裂,變形。
7.3.14.導線(xiàn)折彎強度試驗(Cable Bending Endurance Test--Draft)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
測試目的:導線(xiàn)折彎疲勞測試
實(shí)驗方法:分別選取靠近耳塞和靠近插頭的一段導線(xiàn),將導線(xiàn)的兩端固定在實(shí)驗機上,做0mm~25mm做折彎實(shí)驗3000次。(其它造型的導線(xiàn)可采納工程師的建議來(lái)確定循環(huán)次數)
檢驗標準:導線(xiàn)功能正常被覆外皮不破裂,變形。
7.3.15.導線(xiàn)擺動(dòng)疲勞試驗(Cable Swing Endurance Test--Draft)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
測試目的:導線(xiàn)擺動(dòng)疲勞測試
實(shí)驗方法:分別將耳機和插頭固定在實(shí)驗機上,用1N的力,以180°的角度反復擺動(dòng)耳機末端3000次。(其它造型的導線(xiàn)可采納工程師的建議來(lái)確定循環(huán)次數)
檢驗標準:導線(xiàn)功能正常被覆外皮不破裂。
7.4 表面裝飾測試 (Decorative Surface Test)
測試周期:4 天。
樣品標準數量:每種顏色6 套外殼。
測試流程:
7.4.1.磨擦測試(Abrasion Test - RCA)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
測試目的:印刷/噴涂抗摩擦測試
試驗方法:將最終噴樣品涂固定在RCA試驗機上,用175g力隊同一點(diǎn)進(jìn)行摩擦試驗。每隔50次檢查樣品的表面噴涂。對于表面摩擦300cycles,側棱摩擦150Cycles。特殊形狀的手機摩擦點(diǎn)的
定由測試工程師和設計工程師共同確定。
檢驗標準:耐磨點(diǎn)涂層不能脫落,不可露出底材質(zhì)地(對于噴涂、電鍍、IMD);圖案或字體不能缺損、不清晰(對于絲印、按鍵)。
7.4.2.附著(zhù)力測試(Coating Adhesion Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
測試目的:噴涂附著(zhù)力測試
試驗方法:選最終噴涂的手機外殼表面,使用百格刀刻出100個(gè)1平方毫米的方格,劃格的深度以露出底材為止,再用3M610號膠帶紙用力粘貼在方格面,1分鐘后迅速以90度的角度撕脫3次,檢
方格面油漆是否有脫落。
檢驗標準:方格面油漆脫落應小于3%,并且沒(méi)有滿(mǎn)格脫落。
7.4.3.汗液測試(Perspiration Test)
測試環(huán)境:60 oC,95%RH
測試目的:表面抗汗液腐蝕能力
試驗方法:把濾紙放于酸性(PH=2.6)溶液充分浸透,用膠帶將浸有酸性溶液的濾紙粘在樣品噴漆表面,確保試紙與樣品噴漆表面充分接觸,然后放在測試環(huán)境中,在24小時(shí)檢查一次,48小
后,將樣品從測試環(huán)境中取出,并且放置2小時(shí)后,檢查樣品表面噴漆。
檢驗標準:噴漆表面無(wú)變色、起皮、脫落、褪色等異常。
7.4.4.硬度測試(Hardness Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
測試目的:表面噴涂硬度測試
試驗方法:用2H鉛筆,在45度角下,以1Kg的力度在樣品表面從不同的方向劃出3~5cm長(cháng)的線(xiàn)條3~5條。
檢驗標準:用橡皮擦去鉛筆痕跡后,在油漆表面應不留下劃痕。
7.4.5. 鏡面摩擦測試(Lens Scratch Test)
測試環(huán)境: 室溫(20~25° C);
測試目的:鏡面抗劃傷測試
試驗方法:用Scratch Tester將實(shí)驗樣品固定在實(shí)驗機上,用載重(load)為500g的力在樣品表面往復劃傷50次。
檢驗標準:鏡面表面劃傷寬度應不大于100μm(依靠目視分辨、參照缺陷限度樣板)
7.4.6 紫外線(xiàn)照射測試(UV illuminant Test)
測試環(huán)境:50° C測試目的:噴涂抗紫外線(xiàn)照射測試
試驗方法:在溫度為50°C,紫外線(xiàn)為340W/mm2的光線(xiàn)下直射油漆表面48小時(shí)。試驗結束后將手機外殼取出,在常溫下冷卻2小時(shí)后檢查噴漆表面。
檢驗標準:油漆表面應無(wú)褪色,變色,紋路,開(kāi)裂,剝落等現象。
7.5.1. 低溫跌落試驗(Low temperature Drop Test)
測試環(huán)境:-10° C
樣機數量: 3臺
測試目的:樣機低溫跌落測試
試驗方法:將手機進(jìn)行電性能參數測試后處于開(kāi)機狀態(tài)放置在-10°C的低溫試驗箱內1小時(shí)后取出,進(jìn)行1.2米的6個(gè)面跌落,2個(gè)循環(huán),要求3分鐘內完成跌落,方法同常溫跌落。
檢驗標準:手機外觀(guān),結構,功能和電性能參數符合要求。
7.5.2. 扭曲測試(Twist Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
樣機數量: 2臺
測試目的:抗扭曲測試
試驗方法:將手機處于開(kāi)機狀態(tài),固定在扭曲試驗機上,用2N m力矩反復扭曲手機1000次。對于滑蓋手機,應將一半樣品滑開(kāi)到上限位置。
檢驗標準:手機沒(méi)有變形,外觀(guān)無(wú)異常,各項功能正常。
7.5.3. 坐壓測試(Squeeze Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
樣機數量: 2臺
測試目的:抗坐壓測試
試驗方法:將手機處于開(kāi)機狀態(tài),放置在坐壓試驗機上,用45Kg力反復擠壓手機1000次。 對于滑蓋手機,應將一半樣品滑開(kāi)到上限位置。
檢驗標準:手機沒(méi)有變形,外觀(guān)無(wú)異常,各項功能正常。
7.5.4. 鋼球跌落測試(Ball Drop Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);100g鋼球。
樣機數量: 2臺
測試目的:鏡蓋強度測試
試驗方法:鏡蓋表面:用100g鋼球,從20cm高處,以初速度為0的狀態(tài),垂直打擊鏡蓋表面。
檢驗標準:手機鏡蓋無(wú)變形,無(wú)裂縫,無(wú)破損(允許有白點(diǎn)), LCD功能正常。
7.6.1螺釘的測試(Screw Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
樣機數量: 3臺
測試目的:螺釘拆裝疲勞測試
試驗方法:將手機平放在試驗臺上用允許的最大扭矩(由設計工程師和生產(chǎn)工程師提供), 對同一螺釘在同一位置反復旋動(dòng)螺釘10次.
檢驗標準:試驗中和完成后,螺紋沒(méi)有變形,損壞,滑絲,用肉眼觀(guān)察沒(méi)有裂紋;INSERT不能有明顯的松動(dòng),劃絲;螺釘口(包括機械和自攻螺釘)不能有明顯的松動(dòng),劃絲。
7.6.2掛繩孔強度的測試(Hand Strap Test)
測試環(huán)境:室溫(20~25° C);
樣機數量: 2臺
測試目的:掛繩孔結構強度測試
試驗方法:將掛繩穿過(guò)掛繩孔并以2圈/秒的速率在垂直的平面內轉動(dòng)100圈,然后用拉力計以持續不斷的力拉手機的掛繩.
檢驗標準:手機的掛繩能容易的穿過(guò)掛繩孔(不借助于特殊的工具);轉動(dòng)手機時(shí),掛繩 孔不能被損壞; 掛繩孔的破壞力不能小于12kgf(117N)